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產(chǎn)品分類products
精密阻抗分析儀
產(chǎn)品型號： TH2851
所屬分類：同惠元件參數(shù)測試儀器
產(chǎn)品時間：2025-11-03
簡要描述：TH2851系列精密阻抗分析儀是采用當前*的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新高度。測試頻率最高到130MHz.TH2851系列阻抗分析儀TH2851-130，TH2851-80，TH2851-50，TH2851-30，TH2851-15;TH2851系列阻抗分析儀也*超越了國外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷.
常州同惠電子采用當前的精密阻抗分析儀原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的*新高度。TH2851系列阻抗分析儀基于Windows10操作系統(tǒng)，實現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測試更智能、更簡便。TH2851系列阻抗分析儀也超越了國外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷；中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。得益于*的自動平衡電橋技術(shù)，在10Hz-130MHz的頻率范圍可以保證0.08%的基本精度。快達5ms的測試速度、及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。
精密阻抗分析儀的性能特點
■測試頻率：10Hz-130MHz
■高精度：采用自動平衡電橋技術(shù)，四端對測試配置
■高穩(wěn)定性和一致性
■高速度：*快達5ms的測試速度
■高分辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800
■點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測試方式
■1601點多參數(shù)列表掃描功能
■四參數(shù)測量
■自動電平控制（ALC）功能
■4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有，14種分屏顯示方式
■強大的分選：LCR模式10檔分選
■圖形掃描模式每條曲線單獨分選
■高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHTE4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A。
A.高精度自動平衡電橋技術(shù)的應用，得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達到理想的測量精度，其中*高精度達0.08%，遠遠高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。
B.高穩(wěn)定性和高一致性下圖是在速度5、測試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）
C. 高速度
D.10.1寸大屏，四種測量參數(shù)，讓細節(jié)一覽無遺10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。
大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時可以顯示四種測量參數(shù)，四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)。
E.增強的列表掃描功能可以多設(shè)置1601點的列表掃描，每個點可以單獨設(shè)置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。
F.強大的分析圖形界面
*多通道可以*多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。
G.等效電路分析測試現(xiàn)實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。
可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實際測量的阻抗曲線進行對比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進行擬合。
等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用。
應用
■無源元件：
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
■半導體元件：
LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析。
■其它元件：
印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評估。
■介質(zhì)材料：
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估。
■磁性材料：
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
■半導體材料：
半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性。
■液晶單元：
介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
