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產(chǎn)品分類products
Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
產(chǎn)品型號：
所屬分類：Keithley 半導體測試系統(tǒng)
產(chǎn)品時間：2024-05-09
簡要描述：Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀，使用 4200A-SCS 加快半導體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測量。
Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀，使用 4200A-SCS 加快半導體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
型號 | 描述 |
4200A-SCS-PK1 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率
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4200A-SCS-PK2 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
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4200A-SCS-PK3 | 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
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4200-BTI-A | 用于使用硅 CMOS 技術(shù)進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括：
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模塊 | 描述 |
4200A-CVIV | I-V/C-V 多開關(guān)模塊 |
4201-SMU | 用于高電容設(shè)置的中功率源測量單元 |
4211-SMU | 用于高電容設(shè)置的高功率源測量單元 |
4201-SMU-R | 用于高電容設(shè)置的現(xiàn)場可安裝中功率源測量單元 |
4211-SMU-R | 用于高電容設(shè)置的現(xiàn)場可安裝高功率源測量單元 |
4200-SMU | 中功率源測量單位 |
4210-SMU | 大功率源測量單元 |
4200-SMU-R | 可現(xiàn)場更換的 MPSMU |
4210-SMU-R | 可現(xiàn)場更換的 HPSMU |
4200-PA | 遠程預放大器模塊 |
4210-CVU | 電容-電壓單位 |
4220-PGU | 高電壓脈沖發(fā)生器單元 |
4225-PMU | 超快速脈沖測量單位 |
4225-RPM | 遠程預放大器/開關(guān)模塊 |
4200-BTI-A | 超快速 BTI 包 |
參數(shù)查看，快速清晰。
執(zhí)行 CV 掃描的 4200A-SCS 和 4200A-CVIV 的正視圖
大膽發(fā)現(xiàn)從未如此簡單。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設(shè)置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業(yè)知識可提供測試指南并讓您對結(jié)果充滿信心。
特點：
•內(nèi)置英語，中文，日語和韓語版本的測量視頻
•使用數(shù)百個用戶可修改應(yīng)用測試開始您的測試
•自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。
特點：
無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態(tài)
穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，對高電容測試連接進行穩(wěn)定的低電流測量
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通過高測試連接電容進行穩(wěn)定的低電流測量
特點：
不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
進行 飛安測量
多達 9 個 SMU 通道
針對長電纜或大卡盤進行了優(yōu)化
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
晶片探測站前面的 Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
•“點擊”測試定序
•“手動”探測器模式測試探測器功能
•假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試
